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本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 4956-1985磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量。

磁性方法；GB/T 4957-1985非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量。

渦流方法。JB/T 8393-1996磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x。

JJG 889-95《磁阻法測(cè)厚儀》 JJG818-93《電渦流式測(cè)厚儀》。

a) 磁阻法(F型測(cè)頭)

當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。

b) 渦流法(N型測(cè)頭)

利用高頻交變電流在線(xiàn)圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測(cè)頭中的線(xiàn)圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔茫ㄟ^(guò)測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。

標(biāo)準(zhǔn)配置：

涂層測(cè)厚儀主機(jī)；

F1頭或N1頭；標(biāo)準(zhǔn)片一套；

鐵基體或鋁基體；

兩節(jié)AA（5號(hào)）電池；

儀器包